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半自動晶圓式IR隱形崩缺檢查機

應用

Chip Type in Wafer/Tray 紅外線隱形崩缺檢查、降低因內部崩缺所引起的失效。

 

Semi Auto IR

軟體自動對焦&檢測區設定(Random、Specified Locaton or Full Area)